接近開(kāi)關(guān)使用電流來(lái)檢測(cè)物體的存在而不接觸檢測(cè)體。半導(dǎo)體輸出，與接觸壽命無(wú)關(guān)。它幾乎不受被檢測(cè)物體的污垢和水分的影響。

接近開(kāi)關(guān)也有特氟龍外殼，以及良好的耐化學(xué)腐蝕產(chǎn)品。接近開(kāi)關(guān)可在-40℃～+200℃范圍內(nèi)使用。接近開(kāi)關(guān)檢測(cè)被檢測(cè)物體的物理變化，與表面顏色無(wú)關(guān)。然而，感應(yīng)和靜電容量接近開(kāi)關(guān)相互影響。因此，在安裝開(kāi)關(guān)時(shí)須考慮相互干擾的影響因素。此外，感應(yīng)式接近開(kāi)關(guān)還應(yīng)考慮周圍金屬的影響。靜電容量模型需要考慮周圍物體的影響。通過(guò)外加磁場(chǎng)的影響，檢測(cè)導(dǎo)體表面產(chǎn)生的渦流引起的|磁損耗。這種檢測(cè)方法是先使檢測(cè)線圈產(chǎn)生交流磁場(chǎng)，然后檢測(cè)金屬物體產(chǎn)生的渦流引起的|阻抗變化。它通常用于探測(cè)金屬等導(dǎo)體。